pol eng
Sprawozdania

Komisja Metrologii



Zgromadzenia Ogólne PAN



Gliwice, 9 XII 2011 r.

Sprawozdanie

z seminarium naukowego Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach

9 grudnia 2011 r. w Politechnice Częstochowskiej


Zebranie Komisji Metrologii odbyło się 9 grudnia o godz. 10.30 w Sali Rady Wydziału i w Sali E4 na Wydziale Elektrycznym Politechniki Częstochowskiej (zawiadomienie o zebraniu – załącznik 1). Zebranie otworzył Przewodniczący Komisji Metrologii, dr hab. inż. Stanisław Waluś. Prof. Lech Borowik w imieniu Dziekana Wydziału Elektrycznego Politechniki Częstochowskiej powitał zebranych i przedstawił wizję rozwoju Wydziału. Przewodniczący komisji poinformował o stanie wydawnictwa „Prace Komisji Naukowych”. Zeszyty nr 34 (2010 – ze streszczeniami referatów wygłoszonych w 2009 r.) i nr 35 (2011 – ze streszczeniami referatów wygłoszonych w 2010 r.) są w korekcie wydawniczej. Przewodniczący powiedział, że w tym roku ukazała się publikacja członka Komisji Metrologii dr. inż. Mariusza Rząsy: „Ocena możliwości zastosowania metod tomograficznych w badaniu dwufazowych procesów przepływowych”. Recenzentami książki dra inż. M. Rząsy są: prof. Marek Dziubiński oraz prof. Jan Sikora.

Przewodniczący przedstawił informację o nowo powstałej stronie internetowej Komisji Metrologii administrowanej przez dra inż. Józefa Wiorę.

Komisja zaakceptowała trzy wnioski pracowników samodzielnych o przyjęcie do Komisji Metrologii:

  1. Dra hab. inż. Dariusza Rozumka, prof. nzw. Politechniki Opolskiej (załącznik 3). Komisja jednogłośnie podjęła decyzję o przyjęciu.

  2. Dra hab. inż. Jarosława Rajczyka, prof. nzw. Politechniki Częstochowskiej (załącznik 4). Komisja jednogłośnie podjęła decyzję o przyjęciu.

  3. Dra hab. inż. Lucjana Kurzaka, prof. nzw. Politechniki Częstochowskiej (załącznik 5). Komisja jednogłośnie podjęła decyzję o przyjęciu.

Komisji Metrologii objęła patronatem Międzyuczelnianą Konferencję Metrologów, która odbędzie się w Ustroniu w dniach 9 – 12 IX 2012 r. Organizatorem Konferencji jest Instytut Metrologii, Elektroniki i Automatyki Politechniki Śląskiej (Wydział Elektryczny) oraz Wydawnictwo PAK. Komisja głosowała jednogłośnie za objęciem patronatem MKM 2012.

Komisja Metrologii obejmie patronatem konferencję Podstawowe Problemy Metrologii, która odbędzie się w roku 2012 w Krynicy.

Prof. Tadeusz Skubis przedstawił informację o możliwości aplikowania młodych naukowców o granty Unii Europejskiej związane z tematyką metrologiczną.


Część seminaryjna

Referaty wygłosili:


  1. Dr inż. Sławomir Gryś: „Program „IR Defector detektor” narzędziem do charakteryzacji wad materiałowych metodą termograficzną”. W dyskusji udział wzięli: prof. Krzysztof Werner, prof. Waldemar Minkina, prof. Zygmunt Biernacki, prof. Krzysztof Jesionek, dr inż. Sebastian Dudzik.

  2. Mgr inż. Adam Jakubas: „Pomiary rezystancji powłok antyelektrostatycznych”. W dyskusji udział wzięli: prof. Jerzy Frączek, prof. Lech Borowik, prof. Zygmunt Biernacki, prof. Tadeusz Lechowski, dr inż. Janusz Guzik, prof. Tadeusz Skubis.

  3. Dr inż. Tomasz Grychowski: „Zastosowanie czujnika półprzewodnikowego w budowie urządzenia do kontroli szczelności instalacji gazowych”. W dyskusji wziął udział dr inż. Józef Wiora.

  4. Dr inż. Józef Wiora, Dr inż. Alicja Wiora, Dr inż. Andrzej Kozyra: „Automatyzacja procesu kalibracji elektrod jonoselektywnych”. W dyskusji udział wzięli: prof. Zygmunt Biernacki, prof. Jerzy Frączek.

­­


Wolne wnioski i zakończenie

W posiedzeniu uczestniczyło 35 osób z Komisji Metrologii i jedna osoba nie będąca członkiem Komisji Metrologii, natomiast 10 osób wcześniej usprawiedliwiło swoją nieobecność. Komisja Metrologii liczy 60 członków. Frekwencja wynosiła 58%.


Załączniki:

  1. Zawiadomienie,

  2. Lista obecności,

  3. Wniosek dr hab. inż. Dariusza Rozumka, prof. nzw. Politechniki Opolskiej o przyjęcie do Komisji Metrologii,

  4. Wniosek dr hab. inż. Jarosława Rajczyka, prof. nzw. Politechniki Częstochowskiej o przyjęcie do Komisji Metrologii,

  5. Wniosek dr hab. inż. Lucjana Kurzaka, prof. nzw. Politechniki Częstochowskiej o przyjęcie do Komisji Metrologii



Sekretarz Komisji i Przewodniczący Komisji

Witold Ilewicz Stanisław Waluś

 

zaktualizowano: 23.03.2017